今年是
發(fā)光二極管（
LED）誕生40周年，但只有到5年前
白光LED開發(fā)成功后，對LED進行光譜測量才提上日程。迄今，白光LED的法向發(fā)光強度已達10cd以上，光效已超過25lm/W［1］。由于它具有10萬小時的壽命，微秒級的響應(yīng)時間，光效已超過白熾燈；并且體積小，結(jié)構(gòu)牢固。所以繼鹵鎢燈、熒光燈之后，它成為第三代
照明光源的趨勢已成為必然。目前白光LED的制造途徑主要有三種：
（１）利用InGaN/GaN蘭光芯片，結(jié)合激發(fā)光為黃光的熒光物質(zhì)YAG復合成白光；
（２）利用紅、綠、蘭三基色通過各自比例的調(diào)整，復合成白光；
（３）在ZnSe單晶
基板上形成ZnCdSe薄膜，通電后薄膜發(fā)蘭光，它與基板產(chǎn)生連鎖反應(yīng)發(fā)出黃光，復合成白光。 故各種白光LED離開等能白的色品坐標，即WE（0.3333，0.3333）的差距各不相同，從而對應(yīng)的色溫、色純度和顯色指數(shù)等參數(shù)也各不相同，所以對它進行光譜量測量的重要性不言而喻。 準確測試LED各類光電參數(shù)對改善LED的性能作用頗大，其中光譜量的測試基本上有三種方法，一是把測量光用若干塊不同波長的帶通濾光片過濾后到達光探測器，光探測器一般用光電倍增管和硅光電二極管。二是把測量光經(jīng)衍射光柵分光后到達線陣CCD電荷耦合器件。三是用單色儀分光后進行測量。前面兩種方法主要用于便攜式光譜測試儀對LED進行多參數(shù)一次性快速測量，用同一結(jié)構(gòu)配置的硬件測量多個參數(shù)必然降低測量精度，后一種方法計量部門運用較多，能得到高精度的測量值，但測量時間較長。對單色LED主要測定其峰值波長和半寬度（FWHM），對白色LED主要測定其相對功率分布，從而推導出其色品坐標，主波長、色溫、色純度和顯色指數(shù)等參數(shù)，所以是光譜量測量的重點對象。
